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S2 PICOFOX
Espectrómetro de TXRF
TXRF portátil para límites de detección muy bajos
ƒƒ Preparación de muestras rápida sin digestión
ƒƒ Concentraciones desde 0,1 ppb a 100 por ciento
ƒƒ Cantidades de muestra del orden de nanogramos
ƒƒ Sin consumibles, gases o agua para refrigerar
Soluciones para científicos forenses ...
Innovation with Integrity
TXRF
Determinación de la distancia
forénsica tras el uso de armas
de fuego
Caracterización y análisis de
correspondencia de fragmentos de
vidrio
La fluorescencia de rayos X de reflexión
total (TXRF) ofrece el análisis simultáneo
de trazas de residuos de pólvora para la
determinación de la distancia.
La fluorescencia de rayos X de reflexión
total permite el análisis no destructivo
de virutas de vidrio con cantidades de
muestra mínimas.
ƒƒ El espectrómetro de TXRF
ƒƒ El espectrómetro de TXRF
ƒƒ TXRF permite realizar análisis
ƒƒ Un simple procedimiento
S2 PICOFOX es idóneo para la
determinación de la distancia después
del uso de armas de fuego
simultáneo de elementos, también en
el caso de munición desconocida
ƒƒ TXRF no se ve afectado por los colores
(tejidos, sangre)
ƒƒ TXRF proporciona la flexibilidad
S2 PICOFOX es idóneo para el análisis
elemental preciso de fragmentos de
vidrio
semicuantitativo permite la
caracterización rápida de distintos tipos
de vidrio
ƒƒ El análisis de correspondencia facilita la
identificación de fabricantes de vidrio
Bruker AXS Inc.
Berlin · Alemania
Phone +49 (30) 670990-0
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Nº de pedido DOC-H81-SXS002, Rev. 1.2. © 2015 Bruker Nano GmbH.
Bruker Nano GmbH
Configuraciones y especificaciones sujetas a cambios sin previo aviso.
para afrontar futuros cambios en la
composición de los cebos